مقاله بررسی تأثیر ساختار سطحی لایه های نازک نقره انباشت شده روی Si بر خواص الکتریکی لایه ها تحت تأثیر پارامترهای انباشت دارای 10 صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله بررسی تأثیر ساختار سطحی لایه های نازک نقره انباشت شده روی Si بر خواص الکتریکی لایه ها تحت تأثیر پارامترهای انباشت کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
این پروژه توسط مرکز مرکز پروژه های دانشجویی آماده و تنظیم شده است
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله بررسی تأثیر ساختار سطحی لایه های نازک نقره انباشت شده روی Si بر خواص الکتریکی لایه ها تحت تأثیر پارامترهای انباشت،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله بررسی تأثیر ساختار سطحی لایه های نازک نقره انباشت شده روی Si بر خواص الکتریکی لایه ها تحت تأثیر پارامترهای انباشت :
سال انتشار: 1388
محل انتشار: دهمین سمینار ملی مهندسی سطح و عملیات حرارتی
تعداد صفحات: 10
چکیده:
در این پژوهش خصوصیات ساختاری لایه های نازک نقره انباشت شده روی سیلیکون تحت شرایط مختلف انباشت بررسی شد. لایه های مذکور به روش کندوپاش مغناطیسی تهیه شدند. با تغییر پارامترهای انباشت نظیر ضخامت از 60-1000nm و دمای زیرلایه تا حدود 300c اثرات انها مورد بررسی قرار گرفت. آنالیز میکروسکوپ الکترونی (SEM) برای بررسی ساختار سطحی روی نمونه ها صورت گرفت و تأثیر ساختار سطحی بر خواص الکتریکی توسط چهارسوزنه خطی اندازه گیری شد. نتایج حاکی از رشد اندازه دانه ها در سطح با افزایش ضخامت و افزایش دمای زیرلایه بودند. آنالیز پراش پرتو (XRD)X نشان از تغییر اندازه دانه ها مطابق با مدل ساختار منطقه ای داشت و با نتایج حاصل از تصاویر میکروسکوپ الکترونی لایه های نقره که به صورت گرم انباشت شده اند هم خوانی دارد.
